— 产品中心 —Products
— 联系我们 —
- 咨询热线：0769-89201491
- 工作时间：8:30~18:00
- QQ客服：2895124254
- Email：haidads04@qc-test.com
- 地址：广东省东莞市道滘镇大罗沙大新路产业园
闪存芯片智能测试系统 TST-N8-NAND
TST-N8-NAND
工厂现货，可非标定制（7~15天）
TST · 特斯特仪器
-
闪存芯片智能测试系统产品概述：
闪存芯片智能测试系统HD-N8-NAND是一种可以量身定制测试方案的综合闪存测试系统，系统并行测试闪存颗粒数量最多可达8颗。
闪存芯片智能测试系统HD-N8-NAND支持多种测试pattern及自定义测试参数功能，提供一键式基础测试流程、高灵活性的实验测试及高阶测试流程，可以实现闪存颗粒剩余寿命预测、实测、数据保持和读干扰等多种功能性测试，帮助用户检验闪存颗粒的可靠性状态，完成测试后可以方便快捷地一键导出测试报告，为用户提供最直观的图形化测试数据，为闪存颗粒等级分类和应用提供最精确的参考依据，并基于闪存颗粒品质检测结果实现智能分级。
闪存芯片智能测试系统产品规范：
※测试依据符合JEDEC Stand No.218:固态技术协会B-2016 Solid-State Drive(SSD)Requirements And Endurance Test Motho；
※测试依据符合JEDEC Standard No.47 NVCE:固态技术协会Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits；
※测试板设计规格符合工业级测试温度环境要求；
闪存芯片智能测试系统特性：
*支持PCIE产品的测试；
*支持PCIE的测试片数量产定制化，例如96片、124片，196片，256片等等;
*支持研发微小型定制化，例如4片、8片、12片等等；
*支持（-70度~+180度）的测试；
*支持异常断电测试和老化测试；
*支持自动化温控测试；
*支持全部采用软体进行智能化控制测试；
*支持测试测试软体的定制化；
*支持箱内风速与温度均衡；
*支持快速升降温控制；
*支持PCIE老化的定制化研发；
*支持网络化控制，可以异地控制测试并看测试结果；
*支持APP远程控制测试；
